TSI 3936 扫描电迁移率粒径分布谱仪

产品详情

TSI 的 3936 扫描电迁移率粒径分布谱仪是一种高分辨率纳米粒子粒径分析仪，长期以来一直被誉为是进行包括纳米研发在内的纳米应用纳米粒径表征的研究人员之选择。

TSI 的 SMPS™ 粒径谱仪广泛用作检测空气悬浮粒子粒径分布的标准方法。这些粒径谱仪也经常用于对液体中悬浮的粒子进行精确的纳米粒径检测。.美国国家标准与技术研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 对液体中悬浮的 60nm 和 100nm 标准参考物质进行分粒（聚苯乙烯乳胶球或 PSL 球）。

SMPS™ 粒径谱仪粒径检测技术是一种谨慎的技术，它可直接检测粒子浓度，而无需假定粒子尺寸分布形状。这种方法独立于粒子或流体的折射率，具有高度绝对的尺寸精度和检测可重复性。TSI 3936 扫描电迁移率粒径分布谱仪 (SMPS) 深受科研人员的信赖，已提供了三十多年的高质量数据。

特点和优势

• 高分辨率数据 – 多达 167 个通道
• 宽粒径范围 – 2.5 nm 至 1,000 nm
• 快速检测 – 16 秒内完成粒径分布
• 1 - 10⁷粒子/cm³的宽浓度范围
• 灵活的配置选项；水或丁醇 CPC 工作溶液选择；放射性或非放射性中和器选择
• 计算机自动化流量控制
• 符合 ISO 15900:2009 标准要求的粒径检测方法
• 易于配置和操作
• 谨慎的粒子检测： 适用于多模式样本，不受粒子的光学特性约束。

应用范围

• 纳米科技研究和材料合成
• 大气研究和环境监测
• 燃烧和发动机排气研究
• 室内空气质量检测
• 成核研究/凝结研究
• 吸入毒理学研究

所含项

• DMA 可选式静电分级器
• 六个 CPC 之一
• Aerosol Instrument Manager® 软件